[心得] 給IC測試工程師的基本入門指南
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測試必須按順序進行, 針對前列的測試結果, 後列的測試項目可能會被跳過. 這些項目的內容屬於公司機密 ... WAT: Wafer Acceptance Test,是晶圓出廠前對testkey的測試。
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WAT和FT很多項目是重複的,FT多一些功能性測試。 WAT需要探針接觸測試點(pad)。測試的項目大體有:. 開短路測試(Continuity ...