WAT测量项目以及测试方法 - 百度文库
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WAT测试项目及方法上海宏力半导体制造有限公司Grace Semiconductor Manufacturing Corporation WAT是什么? 是什么Wafer Acceptance Test(晶片允收测试) 半导体硅片在 ... 首页 文档 学前教育 基础教育 高校与高等教育 语言/资格考试 实用模板 法律 建筑 互联网 行业资料 政务民生 说明书 生活娱乐 文档工具 更多 搜索文档 续费VIP 立即续费VIP 会员中心 VIP福利社 VIP免费专区 VIP专属特权 客户端 看过 暂无浏览记录 店铺后台 店铺首页 个人中心 会员中心 消息 收藏 意见反馈 退出登录 WAT测量项目以及测试方法 VIP 2.9分 9935阅读 359下载 2011-10-20上传 25页 关于作者 luhaifeng006 文库新人 文档 11 粉丝 9 等级 Lv1 关注 个人主页
延伸文章資訊
- 1WAT测试介绍 - 阿里云开发者社区
2.6测试项目
- 2第一章研究動機
3.1.6 WAT 開路良率量測. 本節是實際量測WAT(wafer acceptance test)測試項目. 中,第一層金屬導線有關的開路良率測試。這種測試線路是. 為於晶圓切割道上(Scr...
- 3WAT是什麼意思?WAT是什麼的縮寫? - 隨手記錄
- 4[心得] 給IC測試工程師的基本入門指南
Foundry / Factory 在半導體段,分成3大類,WAT 及CP ,有錢的會多拆一組 ... Automatic test 泛指IC在出廠前會進行很多的AC/DC電性測試項目將它整合 ...
- 5第二十三章半導體製造概論
WAT 測試(wafer accept test),亦即根據電氣測試值來分析製程是否有問題。 ... 機台將根據產品不同的測試項目而載入不同的測試程式;而外觀檢驗的項目繁多,且視不同 ...